一、用途：

PCT高壓加速老化試驗箱是用于測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

二、優(yōu)勢特點：

1.具有自動加水功能并且在試驗過程中水過低時自動補水。

2.試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。 　　

3.溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯示。 　　

4.計時器：LED數(shù)字型計時器，當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗*。 　　

5.精準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。 　　

6.運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到蒸氣品質(zhì)。

7.一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。 　　

8.內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀 

三、執(zhí)行與滿足標準:

1.IEC60068-2-66

2. JESD22-A102-B

3. EIAJED4701

4. EIA/JESD22

四、PCT高壓加速老化試驗箱技術規(guī)格：